作物考種分析系統(普通款)
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儀器介紹:

TPKZ-1作物考種分析系統專業用于各種作物籽粒的考種,同時也適用于玉米果穗、玉米截面的測量。

 

功能特點:

1、適用于玉米,水稻,小麥,大豆、油菜,蔬菜等同粒型種子的粒型指標分析。

2、玉米整穗分析功能:自動測出各玉米的穗行數、行粒數、穗長、穗粗、禿尖長、左右穗緣角、穗行角、穗行、穗色。

3、玉米截面分析功能:玉米的穗粗、軸粗、穗行數、粒寬。一次性最少可測15個截面。

4、水稻,小麥,大豆,油菜,蔬菜等種子籽粒分析計算:數量、千粒重/百粒重、每粒種子粒型(包括長、寬、長寬比、周長、面積、直徑)、水分、顏色(RGB表示)、胚尖數。

5、可分析各類種子總結果:所有種子平均值(長、寬、長寬比、周長、面積、直徑)

6、硬件裝置:A3幅面(最高分辨率1600dpi × 1600dpi、紫光M1彩色掃描儀。

7、分析速度:可同時成像分析10個玉米果穗、35個玉米截面、玉米籽粒1500-3000粒/分鐘,其它籽粒為1200-20000粒/分鐘。

8、水分:配有水分測定儀,能得到谷物的水分含量,可將水分值輸入系統中自動導出。

9、圖像:可以任意放大、縮小,方便查看標記結果。

10、數據:可自動導出EXCEL表格,及具有追加保存的功能。

11、顏色:采用公認的具體的RGB數值來表示種子的顏色。

12、重量:具有自動輸出重量功能的天平,輸入后自動換算成千/百粒重。

13、胚尖數:能自動識別玉米籽粒帶有胚尖的數量并標記出胚尖。

14、數據同步:電腦網絡鏈接正常時,自動同步至云平臺,可以在云平臺查看、分析、管理數據。

 

型號區別:

型號 配置區別
TPKZ-1 配置掃描儀、軟件平臺、電子天平
TPKZ-1-G 配置掃描儀、高拍儀、軟件平臺、電子天平,提高分析效率

 

技術參數:

數粒速度:1200-20000粒/分鐘

數粒誤差:≤±0.3%

粒型誤差:≤±0.3%

千粒重誤差:≤0.1~0.3%

 

更新日期:2023-11-14 03:09

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